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  • HVUα_1000VCAF試驗/CAF測試
    HVUα_1000VCAF試驗/CAF測試
    CAF試驗/CAF測試是一種信賴(lài)性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。
    更新時(shí)間:2024-05-14    訪(fǎng)問(wèn)量:7703    型號:HVUα_1000V
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  • HVUα_3000V離子遷移試驗設備
    HVUα_3000V離子遷移試驗設備
    離子遷移試驗設備,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
    更新時(shí)間:2024-05-14    訪(fǎng)問(wèn)量:937    型號:HVUα_3000V
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  • HVUα_2000V離子遷移實(shí)驗裝置
    HVUα_2000V離子遷移實(shí)驗裝置
    離子遷移實(shí)驗裝置 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。
    更新時(shí)間:2024-05-14    訪(fǎng)問(wèn)量:848    型號:HVUα_2000V
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  • HVUα_1000V離子遷移實(shí)驗裝置 絕緣可靠性評估
    HVUα_1000V離子遷移實(shí)驗裝置 絕緣可靠性評估
    離子遷移實(shí)驗裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。
    更新時(shí)間:2024-05-14    訪(fǎng)問(wèn)量:970    型號:HVUα_1000V
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  • ECM-500離子遷移實(shí)驗裝置絕緣電阻值測試
    ECM-500離子遷移實(shí)驗裝置絕緣電阻值測試
    離子遷移實(shí)驗裝置絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
    更新時(shí)間:2024-05-14    訪(fǎng)問(wèn)量:1008    型號:ECM-500
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  • ECM-100離子遷移實(shí)驗裝置
    ECM-100離子遷移實(shí)驗裝置
    離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生, 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。
    更新時(shí)間:2024-05-14    訪(fǎng)問(wèn)量:955    型號:ECM-100
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