Phase12 熱阻測試儀產(chǎn)自美國 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美軍標和 JEDEC 標準.

       Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士頓北部，是電子封裝器件可靠性測試的國際設計，制造公司。創(chuàng )始人 John W.Sofia 是美國麻省理工的博士，并且是提出焊點(diǎn)可靠性,熱阻分析和熱導率理論的專(zhuān)家. 發(fā)表了很多關(guān)于熱阻測試于分析，熱導率及焊點(diǎn)可靠性方面的論文. Analysis Tech Inc.在美國有獨立的實(shí)驗室提供技術(shù)支持. 

       主要用于測試二極管，三極管，線(xiàn)形調壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IGBT，IC 等分立功率器件的熱阻測試及分析。

PHASEI2 熱阻測試儀可以測試Rja，Rjc，Rjb Rjl 的熱阻（測試原理符合JEDEC51-1定義的動(dòng)態(tài)及靜態(tài)測試方法)

Phascl2測試來(lái)的數據，將產(chǎn)生上圖。左上角的數字說(shuō)明這個(gè)器件有四個(gè)層次（為了可以清楚的了解不同層次，可以將這個(gè)圖轉換成圖三)。其中第一個(gè)是芯片下的粘接層的阻抗值，后面Tau是完成的測試時(shí)間，四個(gè)層次的阻抗值之和就是這個(gè)器件的熱阻值。并且每一個(gè)拐點(diǎn)都表明熱進(jìn)入了一個(gè)新的層次。每個(gè)層次的數據將表明這個(gè)器件不同層向外散熱的好壞，對不同廠(chǎng)家同類(lèi)產(chǎn)品而言，可以讓我們選擇熱阻值非常好的廠(chǎng)家;同時(shí)它也可以檢測同一廠(chǎng)家，同類(lèi)產(chǎn)品，不同批次質(zhì)量的差異，從而評測出該廠(chǎng)家生產(chǎn)工藝的穩定性。