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離子遷移實(shí)驗裝置絕緣電阻值測試

簡(jiǎn)要描述：離子遷移實(shí)驗裝置絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。

  • 更新時(shí)間：2024-05-14
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量：1030
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 產(chǎn)品型號：ECM-500
品牌其他品牌產(chǎn)地進(jìn)口
加工定制否

離子遷移實(shí)驗裝置絕緣電阻值測試

離子遷移實(shí)驗裝置是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000  小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF  試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TESTING ）

在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。

適用規格 ： JPCA- - ET01- - 2001

離子遷移實(shí)驗裝置絕緣電阻值測試

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